GIVLAB – TRUNG TÂM NGHIÊN CỨU VÀ GIÁM ĐỊNH ĐÁ QUÝ

HỆ THỐNG THIẾT BỊ GIÁM ĐỊNH VÀ PHÂN TÍCH ĐÁ QUÝ

Công nghệ phân tích hiện đại | Giám định đa phương pháp | Chính xác – Minh bạch – Khách quan

GIVLAB xây dựng hệ thống thiết bị phục vụ nghiên cứu, kiểm tra và giám định đá quý, kim cương, ngọc trai, vàng, kim loại quý và trang sức.

Hệ thống được tổ chức theo nguyên tắc kết hợp giữa quan sát ngọc học – đo thông số vật lý – kiểm tra đặc tính quang học – ghi nhận hình ảnh bao thể – phân tích thành phần nguyên tố – kiểm tra chuyên dụng, qua đó cung cấp nhiều lớp dữ liệu phục vụ quá trình đánh giá mẫu.

Kết quả giám định được xây dựng trên cơ sở tổng hợp dữ liệu từ thiết bị, phương pháp kiểm tra, đặc điểm của mẫu và đánh giá chuyên môn của chuyên gia.


I. HỆ THỐNG KÍNH HIỂN VI VÀ GHI NHẬN BAO THỂ

1. Kính hiển vi ngọc học

Kính hiển vi ngọc học là thiết bị nền tảng trong hoạt động giám định đá quý, được sử dụng để quan sát các đặc điểm bên ngoài và bên trong mẫu ở độ phóng đại phù hợp.

Các nội dung quan sát gồm:

  • Bao thể khoáng vật.
  • Bao thể dạng chất lỏng, khí hoặc đa pha.
  • Đặc điểm sinh trưởng của tinh thể.
  • Đới màu và phân bố màu.
  • Vết nứt và các đặc điểm bên trong.
  • Dấu hiệu xử lý.
  • Đặc điểm bề mặt.
  • Đặc điểm hỗ trợ phân biệt đá tự nhiên, đá tổng hợp và vật liệu mô phỏng.

Kính hiển vi được sử dụng kết hợp với các phương pháp chiếu sáng khác nhau để làm rõ các đặc điểm nội tại của mẫu.

2. Camera kỹ thuật số chụp bao thể

Camera kỹ thuật số được tích hợp với hệ thống kính hiển vi ngọc học, phục vụ chụp ảnh và ghi nhận bao thể bên trong đá quý.

Camera được sử dụng để:

  • Chụp ảnh bao thể ở độ phóng đại phù hợp.
  • Ghi nhận đặc điểm cấu trúc bên trong tinh thể.
  • Ghi nhận đặc điểm sinh trưởng và phân bố màu.
  • Chụp các dấu hiệu liên quan đến xử lý khi quan sát được.
  • Lưu trữ hình ảnh bao thể theo từng mã mẫu.
  • Tạo dữ liệu hình ảnh phục vụ đối chiếu và nghiên cứu.
  • Cung cấp hình ảnh minh chứng trong hồ sơ giám định khi cần thiết.

Hình ảnh bao thể được lưu trữ cùng dữ liệu mẫu, tạo thành một phần của hồ sơ kỹ thuật và cơ sở dữ liệu hình ảnh của GIVLAB.


II. THIẾT BỊ ĐO THÔNG SỐ VẬT LÝ VÀ QUANG HỌC

1. Refractometer – thiết bị đo chiết suất

Refractometer được sử dụng để đo hoặc xác định khoảng chiết suất của mẫu đá quý.

Chiết suất là một thông số quan trọng trong giám định ngọc học, được sử dụng để:

  • Hỗ trợ nhận dạng đá quý.
  • Thu hẹp phạm vi vật liệu có khả năng tương ứng với mẫu.
  • Phân biệt một số loại đá có hình thức bên ngoài tương tự.
  • Kết hợp với các dữ liệu quang học và vật lý khác trong quá trình giám định.

2. Thiết bị đo tỷ trọng/trọng lượng riêng

Thiết bị đo tỷ trọng được sử dụng để xác định trọng lượng riêng của mẫu trong điều kiện đo phù hợp.

Thông số này được kết hợp với chiết suất, đặc điểm quang học, hình thái và các dữ liệu khác nhằm hỗ trợ nhận dạng vật liệu.

3. Bộ phân cực và thiết bị quang học

Hệ thống phụ kiện quang học phục vụ kiểm tra các đặc tính quang học của đá quý, bao gồm:

  • Bộ lọc phân cực.
  • Thiết bị/phụ kiện kiểm tra tính quang học.
  • Nguồn sáng chuyên dụng.
  • Các phụ kiện hỗ trợ quan sát đặc điểm quang học.

Các kết quả quan sát được sử dụng kết hợp với các phép đo và phương pháp giám định khác.


III. THIẾT BỊ PHÂN TÍCH KIM LOẠI QUÝ

TAKARA X PRO – HỆ THỐNG PHÂN TÍCH XRF/EDXRF

TAKARA X PRO là thiết bị phân tích kim loại sử dụng phương pháp XRF/EDXRF (X-ray Fluorescence) để thu nhận thông tin về thành phần nguyên tố của mẫu.

Thiết bị được sử dụng tại GIVLAB phục vụ:

  • Phân tích thành phần vàng.
  • Phân tích kim loại quý và hợp kim.
  • Kiểm tra thành phần nguyên tố của trang sức.
  • Đánh giá thành phần hợp kim trong phạm vi phép đo.
  • Hỗ trợ kiểm tra sự phù hợp giữa thành phần thực tế và thông tin công bố.
  • Phân tích các mẫu kim loại trong điều kiện phù hợp.

TAKARA X PRO có thể được sử dụng cho các mẫu có hình dạng và điều kiện chuẩn bị khác nhau. Đối với mẫu đặt trong bao bì/vỉ, khả năng phân tích phụ thuộc vào vật liệu bao gói, cấu tạo mẫu, vị trí đo và điều kiện thực tế.

Vai trò trong quy trình giám định

XRF/EDXRF cung cấp dữ liệu về thành phần nguyên tố của mẫu. Dữ liệu này được chuyên gia kết hợp với các thông tin khác để đánh giá mẫu.

XRF/EDXRF là phương pháp phân tích thành phần nguyên tố và không được sử dụng như cơ sở duy nhất để đưa ra mọi kết luận về nguồn gốc hoặc tình trạng của một mẫu.


IV. HỆ THỐNG KIỂM TRA VÀ GIÁM ĐỊNH KIM CƯƠNG

1. DIA TRUE CS2 PRO

DIA TRUE CS2 PRO là thiết bị kiểm tra chuyên dụng phục vụ kiểm tra và sàng lọc kim cương và các vật liệu có ngoại hình tương tự kim cương.

Thiết bị được sử dụng để hỗ trợ kiểm tra các nhóm vật liệu như:

  • Kim cương tự nhiên.
  • Kim cương tổng hợp CVD.
  • Kim cương tổng hợp HPHT.
  • Cubic Zirconia (CZ).
  • Moissanite.
  • Các vật liệu mô phỏng kim cương khác trong phạm vi khả năng kiểm tra của thiết bị.

Thiết bị giúp thực hiện kiểm tra chuyên dụng và cung cấp dữ liệu phục vụ quá trình đánh giá mẫu.

Trong trường hợp hệ thống có chức năng xử lý dữ liệu hoặc AI tích hợp, công nghệ này đóng vai trò hỗ trợ phân tích và sàng lọc, không thay thế hoàn toàn việc đánh giá chuyên môn.

2. Bút thử kim cương

Bút thử kim cương được sử dụng để kiểm tra nhanh các mẫu cần sàng lọc ban đầu.

Kết quả từ bút thử được sử dụng như một dữ liệu kiểm tra nhanh và có thể được kết hợp với DIA TRUE CS2 PRO, kính hiển vi và các phương pháp khác khi cần thiết.

Kiểm tra nhanh không đồng nghĩa với kết luận giám định cuối cùng.


V. HỆ THỐNG KIỂM TRA VÀ PHÂN TÍCH NGỌC TRAI

GIVLAB áp dụng phương pháp kiểm tra kết hợp đối với ngọc trai, dựa trên đặc điểm hình thái, bề mặt, tính chất quang học và dữ liệu phân tích khi cần thiết.

Các nội dung kiểm tra có thể bao gồm:

  • Đặc điểm bề mặt.
  • Hình dạng và cấu trúc bên ngoài.
  • Màu sắc.
  • Độ bóng.
  • Đặc điểm quang học.
  • Đặc điểm hỗ trợ phân biệt ngọc trai tự nhiên, ngọc trai nuôi cấy và vật liệu mô phỏng.
  • Hỗ trợ đánh giá nhóm ngọc trai nước ngọt và nước mặn trong trường hợp có đủ cơ sở phân tích.

Phân tích thành phần nguyên tố bằng XRF/EDXRF

TAKARA X PRO có thể được sử dụng để thu nhận dữ liệu thành phần nguyên tố của mẫu ngọc trai trong những điều kiện phù hợp.

Dữ liệu nguyên tố có thể hỗ trợ nghiên cứu và đánh giá mẫu, nhưng cần được kết hợp với các đặc điểm hình thái, cấu trúc và dữ liệu giám định khác.


VI. THIẾT BỊ ĐO LƯỜNG VÀ CÔNG CỤ HỖ TRỢ

Ngoài các thiết bị chuyên dụng, GIVLAB sử dụng các thiết bị và công cụ hỗ trợ nhằm chuẩn hóa quá trình tiếp nhận, kiểm tra và ghi nhận mẫu, bao gồm:

  • Cân điện tử chính xác.
  • Thiết bị đo kích thước.
  • Thước đo chuyên dụng.
  • Nguồn sáng phục vụ giám định.
  • Kính lúp.
  • Bộ phân cực.
  • Các dụng cụ cố định và xử lý mẫu.
  • Thiết bị chụp ảnh mẫu.
  • Máy tính và hệ thống lưu trữ dữ liệu.
  • Phần mềm/hệ thống quản lý hồ sơ và dữ liệu giám định.

Các thiết bị này hỗ trợ việc thu thập thông tin, quản lý mã mẫu, lưu trữ hình ảnh và truy xuất hồ sơ.


VII. HỆ THỐNG GHI NHẬN VÀ LƯU TRỮ DỮ LIỆU

GIVLAB chú trọng việc ghi nhận dữ liệu trong suốt quá trình giám định.

Đối với từng mẫu, dữ liệu có thể bao gồm:

  • Mã mẫu.
  • Thông tin tiếp nhận.
  • Hình ảnh mẫu.
  • Hình ảnh bao thể.
  • Các thông số đo vật lý.
  • Kết quả kiểm tra quang học.
  • Dữ liệu phân tích thành phần nguyên tố khi có thực hiện.
  • Kết quả kiểm tra bằng thiết bị chuyên dụng.
  • Nhận xét của chuyên gia.
  • Kết luận giám định.

Việc ghi nhận và lưu trữ dữ liệu giúp tăng khả năng truy xuất, đối chiếu và kiểm soát hồ sơ mẫu.


VIII. QUY TRÌNH GIÁM ĐỊNH ĐA PHƯƠNG PHÁP

Tùy theo bản chất và mục tiêu kiểm tra, mẫu có thể được thực hiện theo trình tự:

Tiếp nhận và mã hóa mẫu

↓

Quan sát hình thái và đặc điểm bên ngoài

↓

Quan sát bằng kính hiển vi

↓

Chụp và ghi nhận bao thể bằng camera kỹ thuật số

↓

Kiểm tra đặc tính quang học

↓

Đo chiết suất

↓

Đo tỷ trọng/trọng lượng riêng

↓

Kiểm tra bằng thiết bị chuyên dụng

↓

Phân tích thành phần nguyên tố bằng XRF/EDXRF khi cần

↓

Đối chiếu và tổng hợp dữ liệu

↓

Đánh giá chuyên môn

↓

Kết luận và lập hồ sơ/chứng thư giám định

Không phải mọi mẫu đều cần thực hiện tất cả các phép kiểm tra. Phương pháp được lựa chọn dựa trên loại mẫu, mục tiêu giám định và thông tin cần xác định.


IX. BẢNG TỔNG HỢP HỆ THỐNG THIẾT BỊ

STT Thiết bị Phương pháp/nguyên lý Đối tượng Chức năng chính
1 Kính hiển vi ngọc học Quan sát phóng đại Đá quý, kim cương, ngọc trai Quan sát bao thể, cấu trúc và dấu hiệu xử lý
2 Camera kỹ thuật số chụp bao thể Ghi nhận hình ảnh qua kính hiển vi Đá quý, kim cương, ngọc trai Chụp, lưu trữ và đối chiếu hình ảnh bao thể
3 Kính lúp ngọc học Quan sát phóng đại Đá quý, trang sức Kiểm tra nhanh đặc điểm mẫu
4 Refractometer Đo chiết suất Đá quý Thu nhận thông số chiết suất
5 Thiết bị đo tỷ trọng Đo trọng lượng riêng Đá quý Thu nhận thông số vật lý
6 Bộ phân cực Kiểm tra tính quang học Đá quý Hỗ trợ nhận dạng vật liệu
7 Nguồn sáng chuyên dụng Chiếu sáng kiểm tra Đá quý, ngọc trai Hỗ trợ quan sát đặc điểm quang học
8 TAKARA X PRO XRF/EDXRF Vàng, kim loại quý, hợp kim, trang sức, một số mẫu ngọc trai Phân tích thành phần nguyên tố
9 DIA TRUE CS2 PRO Kiểm tra chuyên dụng Kim cương và vật liệu mô phỏng Kiểm tra/sàng lọc kim cương
10 Bút thử kim cương Kiểm tra nhanh Kim cương/vật liệu mô phỏng Sàng lọc ban đầu
11 Cân điện tử chính xác Đo khối lượng Đá, kim loại, trang sức Thu thập thông số vật lý
12 Thiết bị đo kích thước Đo kích thước Đá, trang sức Ghi nhận kích thước mẫu
13 Thiết bị chụp ảnh mẫu Ghi nhận hình ảnh Đá quý, trang sức Lưu trữ hình ảnh hồ sơ
14 Máy tính/hệ thống lưu trữ dữ liệu Quản lý dữ liệu Hồ sơ giám định Lưu trữ và truy xuất dữ liệu

X. NGUYÊN TẮC SỬ DỤNG THIẾT BỊ TẠI GIVLAB

Hệ thống thiết bị của GIVLAB được sử dụng theo nguyên tắc:

THIẾT BỊ → THU NHẬN DỮ LIỆU → ĐỐI CHIẾU → ĐÁNH GIÁ CHUYÊN MÔN → KẾT LUẬN

Mỗi thiết bị cung cấp một nhóm thông tin khác nhau. Không nên sử dụng một phép kiểm tra đơn lẻ để thay thế toàn bộ quy trình giám định.

Đối với các trường hợp phức tạp, chuyên gia có thể lựa chọn bổ sung các phương pháp kiểm tra phù hợp nhằm tăng cơ sở dữ liệu và độ tin cậy của đánh giá.

 

GIVLAB

CHÍNH XÁC – MINH BẠCH – KHÁCH QUAN

Để lại một bình luận

Email của bạn sẽ không được hiển thị công khai. Các trường bắt buộc được đánh dấu *